高加速寿命测试（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT测试）是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的高环境应力来揭示设计缺陷和不足的过程。高加速寿命测试的目的是在，短时间内即可进行产品的失效原因分析，可在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。
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